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基體表面粗糙度對(duì)涂層測(cè)厚儀有什么影響

日期:2024-12-23 17:48
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摘要:
基體表面粗糙度對(duì)涂層測(cè)厚儀有什么影響
    涂層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)的便攜式儀器。

    當(dāng)測(cè)量基體金屬表面較粗糙時(shí),由于涂層測(cè)厚儀是通過(guò)位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。因此粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí),在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù),克服這種偶然誤差。
如果基體金屬比較粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層,再校對(duì)儀器零點(diǎn)。這樣才可取得比較準(zhǔn)確的測(cè)試值.